Determination of Power MOSFET's Gate Oxide Degradation Under Different Electrical Stress Levels Based on Stress-Induced Oxide Capacitance Changes

Hatice Gul Sezgin-Ugranli,Yasin Ozcelep

Bartın Üniversitesi
Kurumsal Akademik Arşivi

- English
- Türkçe

Türkçe
- English
- Türkçe

Giriş

POLİTİKA
REHBER
İLETİŞİM

Öğe Göster

Bartın Üniversitesi Kurumsal Akademik Arşivi
Araştırma Çıktıları | Scopus
Scopus İndeksli Yayınlar Koleksiyonu
Öğe Göster

Bartın Üniversitesi Kurumsal Akademik Arşivi
Araştırma Çıktıları | Scopus
Scopus İndeksli Yayınlar Koleksiyonu
Öğe Göster

JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Determination of Power MOSFET's Gate Oxide Degradation Under Different Electrical Stress Levels Based on Stress-Induced Oxide Capacitance Changes

Tarih

2021

Yazar

Hatice Gul Sezgin-Ugranli,Yasin Ozcelep

Üst veri

Tüm öğe kaydını göster

Bağlantı

https://dx.doi.org/10.1109/TED.2020.3044269
http://hdl.handle.net/11772/9837

Koleksiyonlar

Scopus İndeksli Yayınlar Koleksiyonu [2279]

DSpace@Bartın is member of:

DSpace'de Ara

Bu Koleksiyon

Dergi Adı / ISSN Yayıncı

Exact phrase only All keywords Any

Başlık İle Başlar İçerir ISSN

Göz at

Tüm Alanlar Bölümler & Koleksiyonlar Tarihe Göre Yazara Göre Başlığa Göre Konuya Göre Türe Göre Bölüme Göre Yayıncıya Göre Dile Göre Erişim Şekline Göre Dergiye Göre Bu Koleksiyon Tarihe Göre Yazara Göre Başlığa Göre Konuya Göre Türe Göre Bölüme Göre Yayıncıya Göre Dile Göre Erişim Şekline Göre Dergiye Göre

Hesabım

Giriş Kayıt

DSpace@Bartın is member of:

İLETİŞİM BİLGİLERİ

Adres

Bartın Üniversitesi Kutlubey Yerleşkesi Kütüphane ve Dokümantasyon Daire Başkanlığı Merkez/BARTIN, 74100

E-Posta

acikerisim@bartin.edu.tr

DSpace@Bartin by Bartin University Institutional Repository is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Unported License.