Microstructure characteristics of detonation gun sprayed CoNiCrAIY coatings

Abstract

Ara yüzey koruyucu kaplamalar, çoğunlukla MCrAlY alaşımları ailesinden tercih edilmektedir. Ara yüzey kaplamaları atmosferik plazma sprey (APS), yüksek hız oksi-yakıt sprey (HVOF) ve soğuk gaz dinamik sprey gibi prosesler kullanılarak biriktirilmektedir. CoNiCrAlY kaplamalar, gaz türbin motorlarının sıcak bölgelerinde servis koşulları altında ağır çevresel koşullara karşı super alaşım komponentlerin korunması amacıyla yaygın bir biçimde kullanılmaktadır. Detonasyon tabancası sprey yöntemi, düşük poroziteli ve üstün özelliklere sahip CoNiCrAlY kaplamaları üretmek için türbin bıçakları, kanatçıkları ve yanma odaları gibi termal bariyer kaplamaların (TBCs) gaz türbin uygulamalarında kullanılan, gelecek vaad eden bir prosestir. Bu çalışmada, detonasyon tabancası sprey yöntemi (D-gun)kullanılarak üretilen CoNiCrAlY kaplamaların mikroyapısal özellikleri incelenmiştir. CoNiCrAlY kaplamalar taramalı electron mikroskobu (SEM, enerji saçılımlı spektroskobi (EDS) analizi ve X ışınları difraksiyonu yöntemleri kullanılarak incelenmiş ve değerlendirilmiştir.

Overlay coatings are often chosen from the MCrAlY family of alloys. Overlay coatings are deposited by methods such as atmospheric plasma spraying (APS), high velocity oxy-fuel spraying (HVOF) and cold gas dynamic spraying (CGDS). CoNiCrAlY coatings are widely used for protection of superalloy components against harsh environments under service conditions in the hot sections of gas turbine engines. Detonation gun (D-gun) spraying is a promising process to produce CoNiCrAlY coatings with low porosity and excellent properties in gas turbine applications of thermal barrier coatings (TBCs) such as turbine blade, vanes or combustion chambers. In this study, microstructural properties of CoNiCrAlY coatings produced by detonation gun spraying (D-gun) were investigated. CoNiCrAlY coatings were investigated and evaluated using scanning electron microscope (SEM), energy dispersive spectroscopy (EDS) analysis and X-ray diffractometer (XRD).