Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.authorRamis Mustafa Oksuzoglu,Umut Sarac,Mustafa Yildirim,Hakan Cinar
dc.date.accessioned2023-02-10T12:32:15Z
dc.date.available2023-02-10T12:32:15Z
dc.date.issued2014
dc.identifier10.1016/j.jmst.2013.10.024
dc.identifier.issn0
dc.identifier.urihttps://dx.doi.org/10.1016/j.jmst.2013.10.024
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11772/10702
dc.sourceJOURNAL OF MATERIALS SCIENCE & TECHNOLOGY
dc.subjectMaterials Chemistry
dc.titleCharacterization of Microstructural and Morphological Properties in As-deposited Ta/NiFe/IrMn/CoFe/Ta Multilayer System
dc.typeArticle
dc.identifier.volume30
dc.identifier.issue4


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster